Beanspruchungsanalyse von Ball Grid Array-Kontaktstrukturen beim Jedec-Droptest

Zugl.: Dresden, Techn. Univ., Diss., 2012 u.d.T.: Krämer, Frank: Beanspruchungsanalyse von BGA-Kontaktstrukturen beim Jedec-Droptest

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Krämer, Frank (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Düsseldorf VDI-Verl. 2013
Ausgabe:	Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:	Fortschritt-Berichte VDI Reihe 9, Elektronik, Mikro- und Nanotechnik 392
Schlagworte:	Hochschulschrift > Elektronisches Bauelement > Zuverlässigkeit > Gedruckte Schaltung > Ball Grid Array > Lötverbindung > Fallversuch
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Zugl.: Dresden, Techn. Univ., Diss., 2012 u.d.T.: Krämer, Frank: Beanspruchungsanalyse von BGA-Kontaktstrukturen beim Jedec-Droptest
Beschreibung:	Mit dt. u. engl. Zsfassung
Beschreibung:	X, 180 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:	9783183392094 978-3-18-339209-4