Advanced etch technology for nanopatterning 25 - 26 February 2013, San Jose, California, United States ; [papers presented at the Second Advanced Etch Technology for Nanopatterning Conference (AETNC II) ... as a part of the SPIE Advanced Lithography Symposium]

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Weitere Verfasser: Zhang, Ying (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 2013
Schriftenreihe:Proceedings of SPIE 8685
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Beschreibung
Beschreibung:Literaturangaben
Beschreibung:Getr. Zählung, [ca. 230] S.
Ill., graph. Darst.
ISBN:9780819494672
978-0-8194-9467-2