2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2012) : Tallin, Estonia, 18 - 20 April 2012

2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2012) Tallin, Estonia, 18 - 20 April 2012

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: IEEE Computer Society (BerichterstatterIn), IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Raik, Jaan (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Piscataway, NJ IEEE 2012
Schlagworte:
Integrated circuits > Testing > Design > Konferenzschrift
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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