2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2012) Tallin, Estonia, 18 - 20 April 2012

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften:	IEEE Computer Society (BerichterstatterIn), IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Raik, Jaan (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Piscataway, NJ IEEE 2012
Schlagworte:	Integrated circuits > Testing > Design > Konferenzschrift
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!