2009 IEEE Symposium on Visual Analytics Science and Technology (VAST 2009) Atlantic City, New Jersey, USA, 12 - 13 October 2009 ; [papers]
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Piscataway, NJ
IEEE
2009
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Beschreibung: | Held co-jointly with VisWeek 2009, October 11 - 16 Parallel als Online-Ausg. erschienen |
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Beschreibung: | 282 S |
ISBN: | 9781424452842 978-1-4244-5284-2 |