Proceedings / IEEE Symposium on Visual Analytics Science and Technology 2008 Columbus, Ohio, USA, October 21 - 23, 2008 ; held co-jointly with VisWeek 2008, October 19 - 24
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Piscataway, NJ
IEEE
2008
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Online Zugang: | Inhaltsverzeichnis |
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Beschreibung: | Parallel als Online-Ausg. erschienen |
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Beschreibung: | 216 S |
ISBN: | 9781424429356 978-1-4244-2935-6 |