Silicon-based millimeter-wave technology measurement, modeling and applications
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| Format: | UnknownFormat |
| Sprache: | eng |
| Veröffentlicht: |
Amsterdam u.a
Elsevier, Acad. Press
2012
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| Ausgabe: | 1. ed. |
| Schriftenreihe: | Advances in imaging and electron physics
174.2012 |
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Tag hinzufügen | Beschreibung: | XIX, 483 S. Ill., graph. Darst. |
|---|---|
| ISBN: | 9780123942982 978-0-12-394298-2 |