The R&D value-chain efficiency measurement for high-tech industry in China

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Asia Pacific journal of management
1. Verfasser:	Chiu, Yung-ho (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Huang, Chin Wei (VerfasserIn), Chen, Yu Chuan (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2012
Schlagworte:	2004-2007 > Industrieforschung > Patent > Data-Envelopment-Analyse > Betriebliche Wertschöpfung > Hochtechnologie > China > Aufsatz in Zeitschrift
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Beschreibung
Beschreibung:	graph. Darst.
ISSN:	0217-4561