Location and reliability problems on a line impact of objectives and correlated failures on optimal location patterns

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Omega
1. Verfasser: Berman, Oded (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Krass, Dmitry (VerfasserIn), Menezes, Mozart B. C. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2013
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Beschreibung
Beschreibung:graph. Darst.
ISSN:0305-0483