Quality and exposure control in semiconductor manufacturing, Part II Evaluation

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	International journal of production research
Weitere Verfasser:	Bettayeb, Belgacem (BerichterstatterIn), Basetto, Samuel (BerichterstatterIn), Vialletelle, Philippe (BerichterstatterIn), Tollenaere, Michel (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2012
Schlagworte:	control plan > resource capacity and resource capability > risk exposure > Aufsatz in Zeitschrift
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Beschreibung
Beschreibung:	graph. Darst.
ISSN:	0020-7543