Semiconductor process reliability in practice

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Gan, Zhenghao (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Wong, Waisum (VerfasserIn), Liou, Juin J. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York u.a. McGraw-Hill 2013
Schlagworte:	Semiconductors > Reliability
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis Autorenbiografie Verlagsangaben
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Beschreibung:	XV, 605 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:	007175427X 0-07-175427-X 9780071754279 978-0-07-175427-9