Tests of short memory with thick-tailed errors

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of business & economic statistics
1. Verfasser: Amsler, Christine Elaine (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Schmidt, Peter (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2012
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