2012 IEEE 30th VLSI Test Symposium (VTS 2012) Maui, Hawaii, USA, 23 - 25 April 2012 ; [proceedings]

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Piscataway, NJ IEEE 2012
Schlagworte:	Konferenzschrift > VLSI
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:	Parallel als Online-Ausg. erschienen
Beschreibung:	XXII, 301 S
ISBN:	9781467310734 978-1-4673-1073-4