29th VLSI Test Symposium (VTS 2011) : Dana Point, California, USA, 1 - 5 May 2011 ; [proceedings]

29th VLSI Test Symposium (VTS 2011) Dana Point, California, USA, 1 - 5 May 2011 ; [proceedings]

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Piscataway, NJ IEEE 2011
Schlagworte:
Konferenzschrift > VLSI
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:Parallel als Online-Ausg. erschienen
Beschreibung:XXVII, 328 S
ISBN:9781612846576
978-1-61284-657-6