2010 28th VLSI Test Symposium (VTS 2010) Santa Cruz, California, USA, 19 - 22 April 2010 ; [proceedings]

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Piscataway, NJ IEEE 2010
Schlagworte:	Konferenzschrift > VLSI
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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