2010 28th VLSI Test Symposium (VTS 2010) : Santa Cruz, California, USA, 19 - 22 April 2010 ; [proceedings]

2010 28th VLSI Test Symposium (VTS 2010) Santa Cruz, California, USA, 19 - 22 April 2010 ; [proceedings]

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Piscataway, NJ IEEE 2010
Schlagworte:
Konferenzschrift > VLSI
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:Parallel als Online-Ausg. erschienen
Beschreibung:XXVII, 358 S
ISBN:9781424466498
978-1-4244-6649-8