2009 IEEE VLSI Test Symposium (VTS) : Santa Cruz, California, USA, 03 - 07 May 2009 ; [proceedings]

2009 IEEE VLSI Test Symposium (VTS) Santa Cruz, California, USA, 03 - 07 May 2009 ; [proceedings]

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Piscataway, NJ IEEE 2009
Schlagworte:
Konferenzschrift > VLSI
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Beschreibung
Beschreibung:Parallel als Online-Ausg. erschienen
Beschreibung:308 S
ISBN:9781424437696
978-1-4244-3769-6