Statistical model-based damage detection and localization subspace-based residuals and damage-to-noise sensitivity ratios

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Basseville, Michèle (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Mevel, Laurent (VerfasserIn), Goursat, Maurice (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Rennes IRISA 2002
Schriftenreihe:	Publication interne / Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires 1470
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