Structural, syntactic, and statistical pattern recognition Joint IAPR International Workshop, SSPR & SPR 2012, Hiroshima, Japan, November 7-9, 2012 ; proceedings

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften:	International Association for Pattern Recognition (BerichterstatterIn), SSPR (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Gimel'farb, Georgy (BerichterstatterIn), Hancock, Edwin R. (BerichterstatterIn), Imiya, Atsushi (BerichterstatterIn), Kuijper, Arjan (BerichterstatterIn), Kudo, Mineichi (BerichterstatterIn), Omachi, Shinichiro (BerichterstatterIn), Windeatt, Terry (BerichterstatterIn), Yamada, Keiji (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Berlin, Heidelberg Springer 2012
Schriftenreihe:	Lecture notes in computer science 7626
Schlagworte:	Pattern recognition systems > Computer vision > Konferenzschrift > Mustererkennung
Online Zugang:	Inhaltstext Inhaltsverzeichnis
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