Spot defect oriented diagnosis of double poly CMOS memories using results of functional tests
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | UnknownFormat |
| Sprache: | eng |
| Veröffentlicht: |
Pittsburgh, Pa.
SRC-CMU Research Center for Computer-Aided Design
1989
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| Schriftenreihe: | Research report / Center for Computer-Aided Design, Carnegie-Mellon University
89,50 |
| Schlagworte: | |
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Tag hinzufügen | Beschreibung: | 58 S. Ill., graph. Darst. |
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