A methodology for optimal test structure design for statistical process characterization and diagnosis

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Chen, Ihao (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Strojwas, Andrzej J. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Pittsburgh, Pa. SRC-CMU Research Center for Computer-Aided Design 1987
Schriftenreihe:	Research report / Center for Computer-Aided Design, Carnegie-Mellon University 87,14
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