ICMAT 2011 - reliability and variability of semiconductor devices and ICs [... is devoted to the Symposium W of the International Conference on Materials for Advanced Technologies ... held in Singapore during June 26 to July 1, 2011]

Bibliographische Detailangaben

Weitere Verfasser:	Asenov, Asen (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Amsterdam u.a. Elsevier 2012
Schriftenreihe:	Microelectronics reliability Special issue 52.2012,8
Schlagworte:	Konferenzschrift
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