Bereitstellen, Charakterisieren und gegebenenfalls Konfigurieren der benötigten 0.18 [my]m CMOS Technologie mit Mehrlagenmetall : Teilvorhaben im Verbundprojekt: Subwellenlängenstrukturen mit definierten spektralen und polarisationsselektiven Eigenschaften in Standard-CMOS-Prozessen (SUDEKOS) der X-FAB Semiconductor Foundries AG ; öffentlicher Abschlussbericht ; Berichtszeitraum: 01.01.2008 - 31.12.2011

Bereitstellen, Charakterisieren und gegebenenfalls Konfigurieren der benötigten 0.18 [my]m CMOS Technologie mit Mehrlagenmetall Teilvorhaben im Verbundprojekt: Subwellenlängenstrukturen mit definierten spektralen und polarisationsselektiven Eigenschaften in Standard-CMOS-Prozessen (SUDEKOS) der X-FAB Semiconductor Foundries AG ; öffentlicher Abschlussbericht ; Berichtszeitraum: 01.01.2008 - 31.12.2011

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: X-FAB Semiconductor Foundries AG (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Gäbler, Daniel (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Erfurt 2012
Schlagworte:
Forschungsbericht
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Beschreibung
Beschreibung:Förderkennzeichen BMBF 13N9851. - Verbund-Nr. 01065354. - Auch als elektronische Ressource vorhanden. - Unterschiede zwischen dem gedruckten Dokument und der elektronischen Ressource können nicht ausgeschlossen werden
Beschreibung:14 Bl.
Ill., graph. Darst.