Zum Einfluss der Probentopografie auf die Messunsicherheit bei der Weißlichtinterferometrie
Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2012
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | ger |
Veröffentlicht: |
Stuttgart
Inst. für Technische Optik
2012
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Schriftenreihe: | Berichte aus dem Institut für Technische Optik
72 |
Schlagworte: | |
Online Zugang: | Inhaltsverzeichnis |
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Zusammenfassung: | Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2012 |
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Beschreibung: | 144, XXXII S. graph. Darst. |
ISBN: | 9783923560714 978-3-923560-71-4 |