Analysis of reliability using masked system life data

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	International journal of quality & reliability management
1. Verfasser:	Hutto, Donald E. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Mazzuchi, Thomas (VerfasserIn), Sarkani, Shahram (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2009
Schlagworte:	Aufsatz in Zeitschrift
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Beschreibung
Beschreibung:	graph. Darst.
ISSN:	0265-671X