The 10th International Conference on X-Ray Microscopy Chicago, Illinois, USA, 15 - 20 August 2010 ; [XRM 2010]

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	XRM (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	McNulty, Ian (BerichterstatterIn), Eyberger, Catherine (BerichterstatterIn), Lai, Barry (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Melville, NY American Inst. of Physics 2011
Schriftenreihe:	AIP conference proceedings 1365
Schlagworte:	X-ray microscopy > Konferenzschrift > Röntgenmikroskopie
Online Zugang:	Verlagsangaben Inhaltsverzeichnis Open Access content
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Beschreibung
Beschreibung:	Online-Zugriff frei (Open Access). - Sponsoring organizations: U.S. Department of Energy; Argonne National Laboratory. - Includes bibliographical references and index
Beschreibung:	XII, 473 S. Ill., graph. Darst. 28 cm
ISBN:	0735409250 0-7354-0925-0 9780735409255 978-0-7354-0925-5