Dimensional optical metrology and inspection for practical applications 22 - 23 August 2011, San Diego, California, United States ; [at SPIE Optics + Photonics]

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Harding, Kevin G. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bellingham, Wash. SPIE 2011
Schriftenreihe:	Proceedings of SPIE 8133
Schlagworte:	Konferenzschrift > Optische Messtechnik
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:	Getr. Zählung [ca. 300] S. Ill., graph. Darst.
ISBN:	9780819487438 978-0-8194-8743-8 9780819487483