2010 IEEE Nuclear Science Symposium conference record (NSS/MIC 2010) [including the 2010 IEEE Nuclear Science Symposium, Medical Imaging Conference, and the 17th International Workshop on Room-Temperature Semiconductor X-Ray and Gamma-Ray Detectors (RTSD)]; Knoxville, Tennessee, USA, 30 October - 6 November 2010 1

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: IEEE Nuclear and Plasma Sciences Society (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Piscataway, NJ IEEE 2010
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Beschreibung
Beschreibung:776 S.