2009 International Electron Devices and Materials Symposium (IEDMS), [... held at Chang Gung University in Taoyuan, Taiwan on November 19 - 20, 2009]

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Liou, Juin J. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Amsterdam u.a. Elsevier 2010
Schriftenreihe:	Microelectronics reliability Special issue 50.2010,5
Schlagworte:	Konferenzschrift
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
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