Kelvin probe force microscopy measuring and compensating electrostatic forces

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Sadewasser, Sascha (HerausgeberIn), Glatzel, Thilo (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Berlin, Heidelberg u.a. Springer c 2012
Schriftenreihe:	Springer series in surface sciences 48
Schlagworte:	Atomic force microscopy > Electrostatics > Measurement > Kelvin-Sonde > Rasterkraftmikroskopie
Online Zugang:	Inhaltstext Cover Inhaltsverzeichnis
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