Optimisation of the process control in a semiconductor company model and case study of defectivity sampling

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	International journal of production research
Weitere Verfasser:	Shanoun, M. (BerichterstatterIn), Bassetto, Samuel Jean (BerichterstatterIn), Bastoini, S. (BerichterstatterIn), Vialletelle, P. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2011
Schlagworte:	Halbleiterindustrie > Statistische Qualitätskontrolle > Algorithmus > Frankreich > Aufsatz in Zeitschrift > Fallstudie
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Beschreibung
Beschreibung:	Ill., graph. Darst.
ISSN:	0020-7543