Measuring set for characterizing transistors and two-port networks and 0.25 and 4.2 gc

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Leed, D. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: New York, NY Bell Telephone Laboratories 1966
Schriftenreihe:Bell telephone system technical publications 5178
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