Measuring set for characterizing transistors and two-port networks and 0.25 and 4.2 gc

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Leed, D. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York, NY Bell Telephone Laboratories 1966
Schriftenreihe:	Bell telephone system technical publications 5178
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