Sixth International Symposium on Precision Engineering Measurements and Instrumentation 8 - 11 August 2010, Hangzhou, China ; [ISPEMI]

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	International Committee on Measurements & Instrumentation (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Tan, Jiubin (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bellingham, Wash. SPIE 2010
Schriftenreihe:	Proceedings of SPIE 7544
Schlagworte:	Konferenzschrift
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