Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II 2 - 4 August 2010, San Diego, California, USA ; [part of SPIE optics + photonics]

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Weitere Verfasser: Gu, Zu-Han (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 2010
Schriftenreihe:Proceedings of SPIE 7792
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