Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II 2 - 4 August 2010, San Diego, California, USA ; [part of SPIE optics + photonics]
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Bellingham, Wash.
SPIE
2010
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Schriftenreihe: | Proceedings of SPIE
7792 |
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Online Zugang: | Inhaltsverzeichnis |
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Beschreibung: | Getr. Zählung [ca. 340 S.] |
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ISBN: | 9780819482884 978-0-8194-8288-4 |