InnoProfile Nachwuchsgruppe: TeSiMat - Bewertungs- und Testsystem zur Sicherung der Zuverlässigkeit von Materialverbunden der Mikro- und Nanoelektronik Abschlussbericht ; Laufzeit des Vorhabens: 01.05.06 - 30.04.10

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	Micro-Materials Center Berlin (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Wittler, Olaf (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Berlin 2010
Schlagworte:	Forschungsbericht > Nanoelektronik
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