Beizu-suiron-o-tekiyōshita-heimendo-sokutei-sōchi-no-keisoku-no-futashikasa-suitei = Evaluation of measurement uncertainty for flatness measurement apparatus using Bayesian inference

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Sato, Yoshihiro (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	jpn
Veröffentlicht:	Kawasaki Kenkyūsho 2010
Schriftenreihe:	Meiji-daigaku-kagaku-gijutsu-kenkyūsho-kiyō 48,5
Schlagworte:
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Beschreibung
Beschreibung:	S. 40 - 45 graph. Darst.