An analysis of imperfect RFID visibility in a multi-echelon supply chain

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:International journal of logistics systems and management
1. Verfasser: Buyurgan, Nebil (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Rossetti, Manuel D. (VerfasserIn), Walker, Ronald T. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2010
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Beschreibung
Beschreibung:graph. Darst.
ISSN:1742-7967