Testing and diagnosis for small-delay defects

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Tehranipoor, Mohammad (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Peng, Ke (VerfasserIn), Chakrabarty, Krishnendu (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York, NY, Heidelberg u.a. Springer c 2011
Schlagworte:	Integrated circuits > Very large scale integration > Delay faults (Semiconductors)
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis Inhaltstext Cover
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Beschreibung:	XVIII, 212 S. graph. Darst. 24 cm
ISBN:	1441982965 1-4419-8296-5 9781441982964 978-1-4419-8296-4