Verbundprojekt: Fehlersuche und Fehleranalyse in komplexen Systemen der Mikro- und Nanoelektronik "FULL CONTROL", Teilvorhaben: Fehlersuche und Fehleranalyse in automobilen System-in-Package Sensorsystemen (autoSens) : Abschlussbericht der ELMOS Semiconductor AG

Verbundprojekt: Fehlersuche und Fehleranalyse in komplexen Systemen der Mikro- und Nanoelektronik "FULL CONTROL", Teilvorhaben: Fehlersuche und Fehleranalyse in automobilen System-in-Package Sensorsystemen (autoSens) Abschlussbericht der ELMOS Semiconductor AG

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Krumm, Roland (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Dortmund ELMOS Semiconductor AG 2010
Schlagworte:
Forschungsbericht
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Beschreibung:Förderkennzeichen BMBF 16 SV 2316. - Verbund-Nr. 01048006
Auch als elektronische Ressource vorh
Unterschiede zwischen dem gedruckten Dokument und der elektronischen Ressource können nicht ausgeschlossen werden
Beschreibung:49 Bl.
Ill., graph. Darst