Millimeter, submillimeter, and far-infrared detectors and instrumentation for astronomy V 29 June - 2 July 2010, San Diego, California, United States ; [technical conference ; SPIE Astronomical Instrumentation]

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Holland, Wayne S. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 2010
Schriftenreihe:Proceedings of SPIE 7741
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Beschreibung
Beschreibung:Getr. Zählung [ca. 820 S.]
Ill., graph. Darst.
ISBN:9780819482310
978-0-8194-8231-0