Pattern recognition 32nd DAGM Symposium, Darmstadt, Germany, September 22-24, 2010 ; proceedings

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	Symposium Mustererkennung (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Goesele, Michael (BerichterstatterIn), Roth, Stefan (BerichterstatterIn), Kuijper, Arjan (BerichterstatterIn), Schiele, Bernt (BerichterstatterIn), Schindler, Konrad (BerichterstatterIn), Gösele, Michael (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Berlin, Heidelberg u.a. Springer 2010
Schriftenreihe:	Lecture notes in computer science 6376
Schlagworte:	Optical pattern recognition > Image processing > Digital techniques > Konferenzschrift > Mustererkennung > Kongress
Online Zugang:	Inhaltstext Inhaltstext
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