The surface analysis of insulators by SIMS and XPS charge neutralisation - stabilisation of the surface potential

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Hunt, C. P. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Teddington National Physical Laboratory, Div. of Chemical Standards 1980
Schriftenreihe:NPL report Chem 108
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Beschreibung
Beschreibung:10, [12] S.
graph. Darst.