Design, analysis and test of logic circuits under uncertainty

IntroductionProbabilistic transfer matricesComputing with probabilistic transfer matricesTesting logic circuits for probabilistic faultsSignature-Based reliability analysisDesign for robustnessSummary and extensions.

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Krishnaswamy, Smita (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Markov, Igor L. (VerfasserIn), Hayes, John P. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Dordrecht, Heidelberg u.a. Springer 2013
Schriftenreihe:	Lecture notes in electrical engineering 115
Schlagworte:	Logic circuits > Design > Testing > Uncertainty (Information theory)
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