Design, analysis and test of logic circuits under uncertainty

Design, analysis and test of logic circuits under uncertainty

IntroductionProbabilistic transfer matricesComputing with probabilistic transfer matricesTesting logic circuits for probabilistic faultsSignature-Based reliability analysisDesign for robustnessSummary and extensions.

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Krishnaswamy, Smita (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Markov, Igor L. (VerfasserIn), Hayes, John P. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Dordrecht, Heidelberg u.a. Springer 2013
Schriftenreihe:Lecture notes in electrical engineering 115
Schlagworte:
Logic circuits > Design > Testing > Uncertainty (Information theory)
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Beschreibung
Zusammenfassung:IntroductionProbabilistic transfer matricesComputing with probabilistic transfer matricesTesting logic circuits for probabilistic faultsSignature-Based reliability analysisDesign for robustnessSummary and extensions.
Beschreibung:Formerly CIP Uk. - Includes bibliographical references and index
Beschreibung:XI, 123 S.
graph. Darst.
25 cm
ISBN:9789048196432
978-90-481-9643-2