Automatic bubble defect inspection for microwave communication substrates using multi-threshold technique based co-occurrence matrix

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	International journal of production research
Weitere Verfasser:	Jiang, Bernard C. (BerichterstatterIn), Wang, Chien-chih (BerichterstatterIn), Chen, Hsin-ju (BerichterstatterIn), Chu, Chien-cheng (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2010
Schlagworte:	Produktionssteuerung > Qualitätsmanagement > Telekommunikationsausrüster > Aufsatz in Zeitschrift
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Beschreibung
Beschreibung:	Ill., graph. Darst.
ISSN:	0020-7543