Accelerating test, validation and debug of high speed serial interfaces

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Fan, Yongquan (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Zilic, Zeljko (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Dordrecht u.a. Springer 2011
Schlagworte:	Interface circuits > Testing > Very high speed integrated circuits
Online Zugang:	Inhaltstext Inhaltstext
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Beschreibung
Beschreibung:	XII, 194 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:	9789048193974 978-90-481-9397-4