Extreme statistics in nanoscale memory design

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Singhee, Amith (BerichterstatterIn), Rutenbar, Rob A. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York u.a. Springer 2010
Schriftenreihe:	Integrated circuits and systems
Schlagworte:	Magnetic memory (Computers) > Design > Nanotechnology > Extreme value theory
Online Zugang:	Inhaltstext
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Beschreibung
Beschreibung:	IX, 246 S. Ill., graph. Darst. 235 mm x 155 mm
ISBN:	9781441966056 978-1-4419-6605-6