Proceedings of the Second International Symposium on Test Automation & Instrumentation Beijing, China, November 17 - 21, 2008 Vol. 4
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Beijing
International Academic Publishers
2008
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Beschreibung: | 59, 60, S. 1777 - 2387 Ill., graph. Darst. |